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P.I.G.破坏式膜厚计(铝钢外壳)
发布日期：
2008年09月23日
M-OG202J P.I.G.破坏式膜厚计(铝钢外壳) 规格:测试范围: No: 1 0 - 2500 um/ 一小格 20um No: 2 0 - 1250 um/ 一小格 10um No:10 0 - 250 um/ 一小格 2um 放大镜: 50倍(附光源) 组 成: 本体(含放大镜,有刻划)一台,刮刀 No:10 一支,皮套一个,笔一支,干电池二个 厂 牌: MICRO / 美国
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